В Амстердаме пройдет конференция SPIE Remote Sensing

В 22-25 сентября в Амстердаме в выставочном центре RAI запланировано проведение конференций SPIE Remote Sensing и SPIE Security + Defence. Эти форумы посвящены новейшим исследованиям в области обработки сигналов, электронно-оптических систем, наноинженерии и лазерных технологий. Конференции финансируются SPIE – международным обществом оптики и фотоники. SPIE – неправительственная организация, основанная в 1955 году, насчитывает более 235 тысяч участников из более чем 155 стран.   

Зарегистрированные посетители смогут посмотреть презентации и поучаствовать в обсуждениях с участием экспертов. 

Спикеры Security + Defence – Жос Беншоп из ASML и представитель Technische Universiteit Eindhoven Питер де Виз – расскажут собравшимся о лазерных технологиях, интегральных схемах, видео- и сенсорных системах с использованием КМОТ и прочих технологий. 

Вопросы, связанные с дистанционным сбором данных, будет освещать Барт Снайдерс, представитель TNO, и Лиза Хаддлстон из Космического центра Кеннеди, которые проведут презентации на тему сенсорных технологий, работающих из космоса и с Земли. Также будут описаны детальные сведения о том, как реализуются технологии и используются системы мониторинга погодных явлений, стихийных бедствий, климатических изменений.  

Технически программа Security + Defence включает: 300 материалов об автономных сенсорах, информационных технологиях, в основе которых лежит квантовая физика, терагерцевых сенсорах, сенсорах миллиметровых волн, системах для военного применения, ко всему прочему, сенсорных и гиперспектральных технологиях формирования изображений в высоком разрешении.     

Помимо прочего, будет представлена информация о "Сентинел", "Розетта" и других текущих и будущих космических программах. 

Также во время Security + Defence пройдет бесплатная выставка с участием более 30 разработчиков и поставщиков, которые расскажут о своих биологических и химических устройства и системах; детекторы, сенсоры, лазеры камеры и CCD-компоненты; дисплеи; системы электронной обработки изображений, оптоволоконные компоненты и т.д.