ЦИПР-2026: микроэлектроника переходит к единому цифровому контуру и управлению на основе данных

48 минут назад

© Сгенерировано ИИ

В рамках конференции «Цифровая индустрия промышленной России» состоялась экспертная сессия, посвященная созданию цифрового контура в микроэлектронике. Представители Минпромторга России, профильных институтов, разработчиков и промышленных предприятий обсудили стандартизацию отраслевых данных, внедрение искусственного интеллекта на производстве, развитие отечественного САПР и подходы к масштабированию успешных цифровых решений.

Данные как основа конкурентоспособности

Открывая дискуссию, директор Департамента цифровой трансформации и цифровых технологий Минпромторга России Владимир Дождев отметил, что в 2026 году data-driven-подход уже нельзя рассматривать как технологический тренд или опциональное направление развития. По его словам, качество работы с данными напрямую влияет на конкурентоспособность предприятий, скорость производственных и инженерных процессов, качество продукции и экономическую эффективность бизнеса.

Одной из главных задач для отрасли остается выработка единых подходов к описанию и систематизации промышленных данных. Речь идет о создании общей понятийной среды, единых нотаций и глоссария для описания процессов, активов и производственных цепочек. Это особенно важно для микроэлектроники, где на разных стадиях жизненного цикла изделия формируются большие массивы данных, которые должны быть сопоставимы и пригодны для анализа.

Дождев также подчеркнул, что проблема качества данных остается актуальной: в собираемых массивах по-прежнему много «шума», некачественной и плохо структурированной информации. По разным экспертным оценкам, полезной может быть только часть данных — в ходе обсуждения назывались ориентиры от 5% до 20%. Такие данные не всегда пригодны для обучения моделей, создания цифровых продуктов и принятия управленческих решений.

Для решения этой задачи Минпромторг России совместно с другими ведомствами ведет работу над нормативным регулированием оборота промышленных данных. Кроме того, на базе ФГАУ «Цифровые индустриальные технологии» создан реестр открытых ML-моделей, лучших практик и кейсов по применению машинного обучения. Такие решения могут использоваться предприятиями как основа для дальнейшей кастомизации под собственные задачи.

Промышленный ИИ: опыт АО «НПП “Исток” им. Шокина»

Практический кейс применения ИИ на производстве представил директор по цифровой трансформации АО «НПП “Исток” им. Шокина» Виталий Александров. Он рассказал о внедрении модели прогнозирования общей эффективности и загрузки оборудования на базе платформы промышленного интернета вещей.

На предприятии с 2022 года накапливаются данные с технологического и инженерного оборудования. По словам Александрова, к системе подключено более 500 единиц технологического оборудования и порядка 1,5–2 тыс. единиц инженерной инфраструктуры. Станки передают в среднем от 150 до 200 сигналов в секунду, что формирует значительный массив данных для анализа.

На основе данных о внештатных ситуациях за 2022–2024 годы предприятие разработало модель, которая сейчас находится в опытно-промышленной эксплуатации. Система позволяет прогнозировать загрузку и общую эффективность оборудования примерно на месяц–два вперед. Это дает оператору и управленческой команде возможность не только анализировать уже произошедшие события, но и заранее видеть ожидаемую динамику работы оборудования.

Отдельное внимание было уделено качеству исходных данных. Александров отметил, что в процессе разработки модели потребовалась серьезная предварительная обработка: очистка данных от шумов, построение корреляционных матриц, анализ временных рядов и отбор значимых параметров. В дальнейшем предприятие планирует адаптировать подход для прогнозирования других производственных показателей, включая интеграцию с внутренними BI-системами.

ООО «НЗПП Восток»: цифровизация как поддержка технологов

О внедрении цифровых решений на производственной площадке рассказал генеральный директор ООО «НЗПП Восток» Кирилл Ипполитов. По его словам, один из главных вызовов для микроэлектроники — кадровый. Многие процессы завязаны на уникальных специалистах, чья экспертиза складывается из базового образования и большого практического опыта.

Ипполитов отметил, что технологи могут тратить до 50% рабочего времени на сбор и систематизацию информации. Поэтому одна из задач цифровизации — освободить специалистов от рутинной работы и дать им больше времени для анализа, принятия решений и оперативной реакции на производственные отклонения.

Совместно со Сбером предприятие вело работу по направлению OPC и аналитике данных. Сейчас, в частности, идет систематизация данных для параметрического контроля: технологи смогут получать информацию в удобном виде — в таблицах, графиках и аналитических представлениях.

Ипполитов также сообщил о подтвержденных результатах по снижению топологического уровня с 800 до 600 нм в рамках одного сегмента. По его словам, особенно значимым такой подход станет при дальнейшем движении к более низким топологиям — 250 нм, 180–130 нм и ниже. На 2027 год предприятие планирует перейти к экспериментам с ПХТ-процессами непосредственно на установках.

Платформа для микроэлектронных производств и отраслевые LLM

Управляющий директор Центра развития технологического партнерства Сергей Белоусов представил платформу для микроэлектронных предприятий, предназначенную для сбора, преобразования, агрегации, анализа и визуализации производственных данных.

Платформа работает с различными типами данных, характерными для микроэлектронного производства, и интегрируется как с ИТ-системами, так и с оборудованием. По словам Белоусова, уже реализованы интеграции с рядом контрольно-измерительных устройств, а также ведется работа по подключению производственного оборудования.

Система позволяет создавать пользовательские панели управления — «рабочие столы» — для решения прикладных задач, таких как расчет выхода годных, ретроспективный анализ от пластины к пластине и от партии к партии.

В платформу также встроен модуль компьютерного зрения, который может применяться для анализа снимков с микроскопов. В частности, он позволяет измерять геометрические параметры структур на пластине, рассчитывать средние значения и отклонения.

Еще одно направление — виртуальная визуализация процессов плазмохимического травления. Совместно с ООО «НИМЭ» был реализован модуль 3D-визуализации ПХТ-процесса. Такой подход позволяет виртуально оценивать профиль травления в случаях, когда физические измерения требуют дорогостоящей подготовки пластины.

Отдельно Белоусов отметил интеграцию в платформу русифицированного отраслевого эксперта Semicon, который может работать в on-premise-режиме, без необходимости использования облачного хранилища. Также в системе реализованы ассистенты для настройки платформы и умный поиск на основе RAG-технологии, включая поддержку аудио- и видеофайлов при индексации.

Отечественный САПР: маршрут проектирования до 90 нм

Проректор по инновационному развитию НИУ МИЭТ Алексей Переверзев рассказал о разработке отечественного маршрута проектирования цифровых СБИС. По его словам, современные задачи в области микроэлектроники требуют не просто автоматизации отдельных инструментов, а интеграции данных, участников и стадий жизненного цикла изделия.

В рамках программы Минпромторга России создается отечественный маршрут проектирования цифровых СБИС. Первый этап должен завершиться в конце 2026 года. Его результатом должен стать полный маршрут от RTL до GDS, поддерживающий техпроцессы до 90 нм включительно.

Главным элементом проекта является «Единая проектная среда» — платформа, позволяющая конфигурировать маршрут под разные целевые базисы, включая библиотеки стандартных ячеек, БМК и ПЛИС. Ее задача — перейти от запуска отдельных инструментов к управлению процессом проектирования на более высоком уровне абстракции, через описание бизнес-процессов.

Такой подход должен обеспечить прозрачность этапов проектирования, воспроизводимость результатов, возможность интеграции инструментов искусственного интеллекта и связь с другими стадиями жизненного цикла, включая производство и тестирование. С конца 2026 — начала 2027 года разработчики рассчитывают перейти к пилотным внедрениям при участии промышленных партнеров.

От отдельных решений — к отраслевой платформе

Генеральный директор ООО «НИМЭ» Александр Кравцов обратил внимание, что в микроэлектронике данные возникают на каждом этапе: от исходных материалов и технологических процессов до оборудования, цифровых двойников и контроля выхода годных. Поэтому важна не только оптимизация отдельных операций, но и поиск сквозных зависимостей между исходными параметрами, производственными процессами и конечным результатом.

По его словам, система работы с данными в отрасли должна включать несколько уровней: сбор данных, хранение данных и версий моделей, использование физических принципов и классических методов моделирования, среду для экспериментов разработчиков и прикладные сервисы для управления процессами.

Отдельный вопрос — обмен данными между предприятиями. Участники дискуссии подчеркнули, что речь не идет о безусловной передаче чувствительной информации за пределы корпоративного контура. Данные могут разделяться по уровням доступа: критические остаются внутри компании, часть может передаваться по соглашениям, а отдельные обезличенные массивы могут использоваться как отраслевой стандарт.

При этом участники отметили, что в некоторых случаях предприятиям важно делиться не исходными данными, а результатами их обработки — например, параметризацией, моделями или прикладной ценностью, которую можно использовать в типовых процессах.

Главные барьеры: люди, данные и верификация

В финальной части сессии участники обсудили основные препятствия для внедрения цифровых двойников и дата-центричного управления в микроэлектронике.

Среди основных барьеров были названы закрытость отрасли, разрозненность данных, нехватка интероперабельных массивов, недостаток совместной работы между предприятиями, дефицит экспериментальной базы и необходимость стандартов верификации цифровых двойников.

Представители отрасли также подчеркнули, что цифровой двойник нельзя эффективно создавать как большой абстрактный проект «на годы». Более реалистичный путь — двигаться небольшими прикладными шагами: запускать пилоты, проверять их эффективность, масштабировать успешные решения и постепенно формировать единый цифровой контур.

Особенно остро проблема данных стоит именно в микроэлектронике, где производственный процесс включает множество стадий и параметров. Как отметил секретарь ИЦК «Электроника и микроэлектроника» Михаил Городилов, нехватка данных в такой отрасли может быть критичной, поскольку без сопоставимых и интероперабельных массивов невозможно полноценно развивать цифровые двойники, машинное обучение и управление качеством.

Сессия на ЦИПР-2026 показала, что российская микроэлектроника постепенно переходит от фрагментарной цифровизации к более системной модели работы с промышленными данными. В фокусе отрасли — стандартизация данных, создание единой понятийной среды, развитие цифровых платформ, внедрение ИИ-инструментов на производстве и подготовка к пилотному применению отечественного маршрута проектирования цифровых СБИС.

Главная задача ближайших лет — не просто накапливать данные, а делать их качественными, сопоставимыми и применимыми для управления производством. Именно это должно стать основой для цифровых двойников, прогнозной аналитики и снижения нагрузки на инженерные кадры.

ЦИПР (Цифровая индустрия промышленной России) — одна из крупнейших в России ИТ-конференций, посвященных цифровой экономике, трансформации промышленности и реализации нацпроекта «Экономика данных». Мероприятие традиционно проходит в Нижнем Новгороде и выступает ключевой деловой площадкой для диалога между государством, крупным бизнесом и отечественными разработчиками по вопросам импортозамещения, кибербезопасности и достижения технологического суверенитета.

Читайте также: На ЦИПР-2026 киберугрозы, атаки БПЛА и телефонное мошенничество названы вопросами устойчивости бизнеса