В Новгородском университете создали нейросеть для поиска дефектов микросхем

Share to Telegram Share to VK
clock 02 октября 2025, 15:15
В Новгородском университете создали нейросеть для поиска дефектов микросхем © Фото: novsu.ru

В Новгородском университете представили программное обеспечение, которое автоматически выявляет внешние дефекты микросхем и ускоряет процесс отбраковки в микроэлектронике. Об этом сообщили в пресс-службе НовГУ.

Система на базе нейросетей выявляет внешние дефекты монолитных интегральных схем (МИС) и автоматизирует контроль качества продукции для микроэлектроники. Разработка позволяет ускорить отбраковку некачественных микросхем, повысить объёмы производства и снизить затраты, что особенно актуально в условиях импортозамещения и ограничений на поставки зарубежных комплектующих.

Автоматизация контроля качества

Внешние дефекты МИС возникают на этапе технологических процессов — это царапины, следы загрязнений, смазанная металлизация и другие визуальные повреждения. Такие повреждения приводят к сбоям в работе микросхем и систем, снижают надежность электроники.

Поскольку дефекты часто видны только под микроскопом, а на одной полупроводниковой пластине размещаются сотни чипов, ручная проверка слишком трудоемка и дорога, что сказывается на себестоимости продукции. Инструмент от НовГУ на базе ИИ минимизирует человеческий фактор и ускоряет проверку.

Программа объединяет две модели нейросети. Первая сканирует поверхность микросхем и фиксирует потенциальные дефекты, а затем передаёт данные второй модели для анализа по базе. На выходе оператор получает подробный аналитический отчёт, на основе которого принимает решение о состоянии МИС.

«Благодаря нашей разработке частично автоматизируется монотонный и времязатратный процесс отбраковки. Это позволяет нарастить объём выпускаемой продукции и перераспределить труд квалифицированных специалистов на другие более важные задачи», — прокоментировал автор проекта, ассистент кафедры радиосистем НовГУ Владислав Рысев

Похожие программы уже существуют, но они применяются в других сферах

Автор проекта подчеркнул, что аналогов для контроля именно внешних дефектов микросхем на рынке нет. Существующие продукты вроде Vmx Dequs:IS, NEUROSCANNER или ML Sense используют в металлургии, нефтехимии и других отраслях, но не адаптированы под микроэлектронику.

В отличие от них, новгородский софт легко адаптируется под задачи заказчика и не требует специальных навыков программирования при дообучении. Кроме того, продукт НовГУ полностью отечественный.

Тестирование и перспективы

На сегодня готова бета-версия, система уже проходит тестирование на одном из научно-производственных предприятий в Новгородской области. По итогам испытаний софт доработают и передадут заказчику. В дальнейшем разработчики планируют добавить функцию выявления не только внешних, но и внутренних дефектов. Проект профинансирован грантом «Студенческий стартап» на 1 млн рублей, который пошёл на обучение ИИ и зарплату разработчиков.

Читайте также: Разработчикам ПО и интегральных микросхем с 2026 года придётся платить НДС


Был ли вам полезен данный материал?


Подписывайся на наши каналы в Telegram:

Подпишись на еженедельный дайджест самых интересных новостей по e-mail    
Yandex.Дзен

Подписывайтесь на канал ru-bezh.ru
в Яндекс.Дзен

RUБЕЖ в telegram+ RUБЕЖ-RSS RUБЕЖ в vk RUБЕЖ на youtube RUБЕЖ на dzen

Контакты

Адрес: 119270, г. Москва, Фрунзенская набережная, д. 50, пом. IIIа, комн.1

Тел./ф.: +7 (495) 539-30-20

Время работы: 9:00-18:00, понедельник - пятница

E-mail: info@ru-bezh.ru


Для рекламодателей

E-mail: reklama@ru-bezh.ru

тел.: +7 (495) 539-30-20 (доб. 103)

Первый отраслевой маркетплейс систем безопасности SecumarketПартнёр первого маркетплейса систем безопасности secumarket.ru
Выделите опечатку и нажмите Ctrl + Enter, чтобы отправить сообщение.