В Зеленограде создали ИИ-систему контроля чипов с точностью 96%

14 октября 2025, 08:30

© Фото: freepik.com

В Зеленограде представили отечественную ИИ-систему, которая оценивает качество микросхем. Технология находит дефекты с точностью до 96% – это показатель, который был ранее недостижим при проверке вручную. О новинке рассказала пресс-служба студенческой стартап-студии НИУ МИЭТ.

Разработка – результат совместной работы студенческого стартапа «ИИ-Тех» и и Зеленоградского нанотехнологического центра (АО «ЗНТЦ» входит в ГК «Роснано»). Проект поддержала «Стартап-студия МИЭТ», было привлечено госфинансирование через Фонд инфраструктурных и образовательных программ.

Программная часть комплекса построена на библиотеках OpenCV и PyTorch. Технология компьютерного зрения использует нейросеть, обученную на базе изображений дефектов микрокристаллов. Система определяет микротрещины, царапины и геометрические искажения. 

«Применение нейросетевых алгоритмов позволяет исключить субъективность и человеческий фактор, свойственные традиционным методам контроля. Благодаря этой технологии мы смогли достичь точности в 96% – показателя, недостижимого при визуальном контроле. Система детектирует микротрещины, царапины, геометрические искажения и другие критические несоответствия», — заявил Дмитрий Калбазов, начальник центра разработки технологического оборудования АО «ЗНТЦ».

Устройство представляет готовое решение с микроскопом высокого разрешения. В комплекс также входят моторизированный стол, сервер обработки данных и специализированное ПО. Внедрение в существующие производственные линии занимает не более двух дней. 

Опытный образец изобретения уже применялся на производственной линии АО «ЗНТЦ». Стартап уже ведёт переговоры с компанией «Д-Микро» об интеграции системы в их микроскопы. Следующий этап — полная автоматизация сканирования и дообучение нейросети прямо на производстве.

Читайте также: в Новгородском университете создали нейросеть для поиска дефектов микросхем